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本发明公开了一种用于集成电路检测的预处理装置，包括检测机架，还包括设置在检测机架上的夹持机构、检测机构和翻转机构；夹持机构包括相对设置的一对夹持板、与夹持板固定连接的转动球，夹持板上成型有夹持槽，转动球上成型有环槽，检测机架上成型有上下设置...
该专利属于王文庆所有，仅供学习研究参考，未经过王文庆授权不得商用。

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