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一种半导体检测设备制造技术
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文档序号:14443466
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本实用新型公开了一种半导体检测设备,包括支撑架和横轴,所述横轴设置在支撑架的下面,所述横轴上设有万向轮,所述支撑架中心处设有SQUID检测系统,所述SQUID检测系统包括检测外壳、SQUID探头和聚焦透镜,所述SQUID探头设置在检测外壳下...
该专利属于林思源;王炅鑫;黄钰荀所有,仅供学习研究参考,未经过林思源;王炅鑫;黄钰荀授权不得商用。
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