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本实用新型提供了一种集成电路裸片和电子器件，该集成电路裸片包括形成在半导体衬底中的多个晶体管，这些晶体管的本体区在该半导体衬底的掺杂阱区上。阈值检测器基于半导体衬底的温度是高于还是低于阈值温度而对掺杂阱区选择性地施加第一电压或第二电压。...
该专利属于意法半导体国际有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过意法半导体国际有限公司授权不得商用。

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