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本发明公开了一种光学检测系统及光学检测设备，第一入射单元提供第一入射光线，并将第一入射光线以预设角度传输至处理单元；第二入射单元提供第二入射光线，并将第二入射光线以若干个角度传输至处理单元；处理单元将第一入射光线和第二入射光线进行处理后以多...该专利属于京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司授权不得商用。