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本发明公开了一种自动化、高效率、高精度的晶片电阻检测装置，包括高精度工业相机，所述高精度工业相机下方依次设有正光源和透明定位平台，所述透明定位平台背面设有背光源，所述晶片电阻检测装置还连接有自动控制装置，所述自动控制装置设有操作面板。本装置...
该专利属于昆山市和博电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山市和博电子科技有限公司授权不得商用。

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