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本发明提出一种FPGA上电复位过程的存储单元读写检测系统及方法，在FPGA芯片左上角、左下角、右上角和右下角外侧分别设置测试存储单元，并通过检测测试存储单元的读写是否正常，来判断芯片所有的存储单元是否能正常读写，能够在上电复位过程中判断在后...
该专利属于无锡中微亿芯有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡中微亿芯有限公司授权不得商用。

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