下载一种半导体激光器芯片测试装置的技术资料

文档序号:14002755

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本发明提出了一种新的半导体激光器芯片测试装置。该半导体激光器芯片测试装置,包括自上而下依次设置的芯片压头、弹性压接部件、柔性导电薄膜和用于放置半导体激光器芯片的导电测试台,所述柔性导电薄膜和导电测试台分别作为正负电极;柔性导电薄膜对弹性压接...
该专利属于西安炬光科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过西安炬光科技股份有限公司授权不得商用。

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