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本发明涉及一种具备位置识别的电子设备测试系统及IP设定方法，包括上位机、测试柜控制器以及功能测试模拟设备，其还设有若干倒T型DA转换电路、若干与待测电子设备对应的供电电源以及分别控制供电电源对待测电子设备供电的控制电路，通过控制电路对待测电...
该专利属于温州大学所有，仅供学习研究参考，未经过温州大学授权不得商用。

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