一种具备位置识别的电子设备测试系统的IP设定方法技术方案

本发明专利技术涉及一种具备位置识别的电子设备测试系统及IP设定方法，包括上位机、测试柜控制器以及功能测试模拟设备，其还设有若干倒T型DA转换电路、若干与待测电子设备对应的供电电源以及分别控制供电电源对待测电子设备供电的控制电路，通过控制电路对待测电子设备的顺序通电使得倒T型DA转换电路的输出电压V0发生变化，并将该电压V0输入到测试柜控制器，从而分别获得当前装入待测电子设备的位置编号，采用本发明专利技术所述的具备位置识别的电子设备测试系统IP设定方法具有结构简单、可靠性高，实用性强等特点；可有快速、有效解决IP与位置编号不一致的问题，为设备组网地址分配领域提供了一种新的方案。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种具备位置识别的电子设备测试系统及IP设定方法，用于分配测试系统中被测电子设备的IP，该方法适用于各类电子设备，诸如开关电源、变频器、LED控制器，电机控制器等测试系统的IP设定。
技术介绍
电子设备测试系统是针对被测电子设备各种功能、性能和安规认证进行综合测试的平台，其稳定可靠性直接关系到被测电子设备产品缺陷的检测，是电子设备出厂前的最后一道质量关，其重要性不言而喻。电子设备测试系统主要包括上位机(PC机)，测试柜控制器、功能测试模拟设备、倒T型DA转换电路和被测电子设备等组成。一方面，上位机通过控制功能测试模拟设备调节测试流程(比如，电压测试、电流测试、高温老化测试、安规测试、负载输出动静态调节测试及故障处理测试等)和对应的测试参数(比如，电压参数、电流参数、工况温湿度参数、安规参数等)并将实时测试流程和对应的参数下发给测试柜控制器。另一方面，测试柜控制器将接收到的测试流程及对应的设定参数转发给被测电子设备；同时，测试柜控制器将测试柜中所有被测电子设备测试结果参数和工作状态通过通信总线上报给上位机。上位机将接收到的具有唯一IP地址的被测电子设备的实际工作参数与设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具备位置识别的电子设备测试系统，其包括上位机、测试柜控制器以及功能测试模拟设备，其特征在于：其还设有若干倒T型DA转换电路、若干与待测电子设备对应的供电电源以及分别控制供电电源对待测电子设备供电的控制电路，待测电子设备通过倒T型DA转换电路与测试柜控制器连接，所述待测电子设备与测试柜控制器通信连接，所述测试柜控制器与上位机连接，所述倒T型DA转换电路包括正负输入端，所述正负输入端之间对应待测电子设备的位置设置切换开关，通过切换开关的闭合闸将待测电子设备接入倒T型DA转换电路，通过控制电路对待测电子设备的顺序通电使得倒T型DA转换电路的输出电压V0发生变化，并将该电压V0输入到测试柜控制器，...

【技术特征摘要】
1.一种具备位置识别的电子设备测试系统，其包括上位机、测试柜控制器以及功能测试模拟设备，其特征在于：其还设有若干倒T型DA转换电路、若干与待测电子设备对应的供电电源以及分别控制供电电源对待测电子设备供电的控制电路，待测电子设备通过倒T型DA转换电路与测试柜控制器连接，所述待测电子设备与测试柜控制器通信连接，所述测试柜控制器与上位机连接，所述倒T型DA转换电路包括正负输入端，所述正负输入端之间对应待测电子设备的位置设置切换开关，通过切换开关的闭合闸将待测电子设备接入倒T型DA转换电路，通过控制电路对待测电子设备的顺序通电使得倒T型DA转换电路的输出电压V0发生变化，并将该电压V0输入到测试柜控制器，从而分别获得当前装入待测电子设备的位置编号。2.一种基于上述权利要求1或2所述的具备位置识别的电子设备测试系统的IP设定方法，其特征在于：其包括以下步骤：(a)依次将待测电子设备放入测试柜，并正确接好连线，直至所有待测电子设备均放入测试柜；(b)测试柜控制器通过顺序控制控制电路对待测电子设备的供电，对DA转换电路输出电压V0进行采样，依次对放入测试柜的待测电子设备进行位置号识别和标记，并将依据识别地址得到的IP＝j+i发送给待测电子设备，并确认IP设定成功，其中j为高字节表示排号，i为低字节表示列位置编号；(c)所有待测电子设备放置完毕之后，运行上位机测试程序；(d)上位机发出测试流程的第一步指令，即获取电子设备IP；(e)测试柜控制器收到上位机发出的获取IP命令之后，依据以获得的测试柜中待测电子设备放置的位置编号，按照排号从小到大，列位置编号从小到大的原则设定待测电子设备的IP；(f)测试柜控制器将所有待测电子设备的IP＝j+i发送给上位机；(g)上位机依据获取的IP建立待测电子设备的测试数据库，地址设...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭志辉，李凯，张健，刘文文，朱德华，钟蓉，
申请(专利权)人：温州大学，
类型：发明
国别省市：浙江;33