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本实用新型公开了一种IC外观检验装置，包括进料模块，第一移载轨道内包括两个运输模块依序在不同时间点将进料模块内不同的载盘移出并送至检测区；第二移载轨道负责运输备料载盘；龙门架的两侧各安装着第一、二取放模块，第一取放模块将载盘上的IC移至检测...
该专利属于京隆科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京隆科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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