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本发明公开了一种不均匀电导率导电材料基体表面覆盖层厚度测量方法，采用水平归一化方法，去除基体电导率不均匀导致的覆盖层厚度测量误差，大大提高了不均匀电导率导电材料基体表面覆盖层厚度的检测效率与检测精度。...
该专利属于爱德森（厦门）电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱德森（厦门）电子有限公司授权不得商用。

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