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本发明涉及一种用于在易于爆炸区域中执行测量的辐射度测量设备，所述辐射度测量设备在测量位置处仅需要少量空间，并且能够经济地进行生产。所述辐射度测量设备包括能够用在易于爆炸区域中的测量单元(7)。所述测量单元包括闪烁体(13)和半导体检测器(1...
该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔两合公司授权不得商用。

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