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本发明涉及一种发射机芯片的测试方法和装置，包括：接收待测芯片根据测试固件发射的测试速率下的信号；将所述测试速率下的信号发送至数字信号处理芯片，以使所述数字信号处理芯片对所述测试速率下的信号进行计算和解析得出测试结果，并将所述测试结果发送至测...
该专利属于北京联盛德微电子有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京联盛德微电子有限责任公司授权不得商用。

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