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本发明提供了一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法及装置，其中方法包括：监测硬盘的自我监测分析与报告技术SMART参数，所述SMART参数包括：重分配扇区参数、当前待映射扇区参数、错误无法恢复参数和指令超时参数；根据所述SMART参数...
该专利属于思创数码科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过思创数码科技股份有限公司授权不得商用。

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