一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法及装置，其中方法包括：监测硬盘的自我监测分析与报告技术SMART参数，所述SMART参数包括：重分配扇区参数、当前待映射扇区参数、错误无法恢复参数和指令超时参数；根据所述SMART参数中各项参数的监测值判断所述硬盘是否出现状态异常；如果是，根据所述SMART参数中各项参数的监测值调整所述硬盘的健康指标值；根据当前所述硬盘的健康指标值确定所述硬盘当前的健康状态。能够在硬盘状态出现异常时对硬盘健康状态的进行有效预估，给使用者提供准确的参考数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及硬盘监测保护
，具体而言，涉及一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法及装置。
技术介绍
硬盘在使用的过程中随着时间的推移会逐步产生坏道，坏道足够多时，将影响数据存储的安全，一般解决该问题的方式是对数据进行冗余备份，但即使采用了RAID1，也无法避免数据硬盘和备份硬盘同时出现故障的情况。SMART(Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology，自我监测分析与报告技术)作为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准，是硬盘普遍采用的数据安全技术，在硬盘工作的时候监测系统中电极、电路、磁盘、磁头等的状态；现有技术中，硬盘厂商普遍采用阔值判定方法来预测硬盘故障，即利用硬盘SMART技术，采集硬盘运行时的各项监测数据项的指标信息，并分别与预先设定的各项监测数据项的指标信息的硬盘故障预警阔值相比较，超过故障预警阔值时便触发故障报警；但是在设定各项监测数据项的指标信息的故障预警阔值时往往选择将误报率降至最低，此种做法同时也牺牲了预测的准确率，并且上述SMART各项监测数据项的指标信息中大多数指标与硬盘故障不存在关联，因此导致现有技术中在误报率约为0.1％时，其硬盘故障监测准确率仅为3％-10％。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提供一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法及装置，以实现准确地监测硬盘的健康状态。有鉴于此，一方面本专利技术实施例提供了一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法，包括：监测硬盘的自我监测分析与报告技术SMART参数，所述SMART参数包括：重分配扇区参数、当前待映射扇区参数、错误无法恢复参数和指令超时参数；根据所述SMART参数中各项参数的监测值判断所述硬盘是否出现状态异常；如果是，根据所述SMART参数中各项参数的监测值调整所述硬盘的健康指标值；根据当前所述硬盘的健康指标值确定所述硬盘当前的健康状态。上一个实施例中，根据所述SMART参数中各项参数的监测值判断所述硬盘是否出现状态异常包括：当所述SMART参数的监测值存在以下情况中的至少一项时，确定所述硬盘出现状态异常：所述重分配扇区计数参数的监测值非0；所述当前待映射扇区计数参数的监测值大于第一设定值；所述无法恢复的错误参数的监测值非0；所述指令超时参数的监测值大于第二设定值。上一个实施例中，所述SMART参数还包括：颗粒平均擦写参数；根据所述SMART参数中各项参数的监测值判断所述硬盘是否出现状态异常还包括：当所述颗粒平均擦写参数的监测值小于第三设定值时，确定所述硬盘出现状态异常。上一个实施例中，根据所述SMART参数中各项参数的监测值调整所述硬盘的健康指标值包括：根据所述SMART参数中各项参数的监测值查找预先设定的健康指标值调整幅度列表，所述健康指标值调整幅度列表包括所述SMART参数中各项参数的监测值所处区间对应的健康指标调整幅度值；按照所述监测值查找到的健康指标调整幅度值计算调整所述硬盘的健康指标值。上一个实施例中，根据当前所述硬盘的健康指标值确定所述硬盘当前的健康状态，还包括：根据所述健康指标值计算得到硬盘的健康百分比；读取所述硬盘的累计通电时间；基于所述健康百分比和所述硬盘的累计通电时间初步计算得到硬盘的剩余寿命；以及收集硬盘运维数据，形成硬盘运维知识库，在所述硬盘运维知识库中获取所述累计通电时间和硬盘的亚健康指标数据，构建不同类型、品牌、型号硬盘的平衡预测系数模型，根据所述平衡预测系数模型计算得到平衡预测系数，并通过所述平衡预测系数对所述硬盘的剩余寿命作进一步的精确计算。另一方面，本专利技术实施例还提供了一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的装置，包括：监测模块，用于监测硬盘的自我监测分析与报告技术SMART参数，所述SMART参数包括：重分配扇区参数、当前待映射扇区参数、错误无法恢复参数和指令超时参数；判断模块，用于根据所述SMART参数中各项参数的监测值判断所述硬盘是否出现状态异常；健康指标值调整模块，用于根据所述SMART参数中各项参数的监测值调整所述硬盘的健康指标值；健康状态确定模块，用于根据当前所述硬盘的健康指标值确定所述硬盘当前的健康状态。上一个实施例中，所述判断模块还用于当所述SMART参数的监测值存在以下情况中的至少一项时，确定所述硬盘出现状态异常：所述重分配扇区计数参数的监测值非0；所述当前待映射扇区计数参数的监测值大于第一设定值；所述无法恢复的错误参数的监测值非0；所述指令超时参数的监测值大于第二设定值。上一个实施例中，所述判断模块还用于：当所述颗粒平均擦写参数的监测值小于第三设定值时，确定所述硬盘出现状态异常。上一个实施例中，所述健康指标值调整模块，包括：查找单元，用于根据所述SMART参数中各项参数的监测值查找预先设定的健康指标值调整幅度列表，所述健康指标值调整幅度列表包括所述SMART参数中各项参数的监测值所处区间对应的健康指标调整幅度值；第一计算单元，用于按照所述监测值查找到的健康指标调整幅度值计算调整所述硬盘的健康指标值。上一个实施例中，所述健康状态确定模块，包括：读取单元，用于读取所述硬盘的累计通电时间；第二计算单元，用于根据所述健康指标值计算得到硬盘的健康百分比；还用于基于所述健康百分比和所述硬盘的累计通电时间初步计算得到硬盘的剩余寿命；第三计算单元，用于收集硬盘运维数据，形成硬盘运维知识库，在所述硬盘运维知识库中获取所述累计通电时间和硬盘的亚健康指标数据，构建不同类型、品牌、型号硬盘的平衡预测系数模型，根据所述平衡预测系数模型计算得到平衡预测系数，并通过所述平衡预测系数对所述硬盘的剩余寿命作进一步的精确计算。本申请实施例中提供的一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法，能够在SMART参数基础上获取与硬盘故障密切相关联的有效参数，根据该参数进行判断硬盘是否出现状态异常，并在硬盘状态出现异常时对硬盘健康状态进行有效预估，给使用者提供准确的参考数据。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1示出了本专利技术一个实施例所提供的一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法的流程示意图；图2示出了本专利技术一个实施例所提供的预测平衡系数与累计通电时间关系示意图；图3示出了本专利技术一个实施例所提供的一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法，其特征在于，包括：监测硬盘的自我监测分析与报告技术SMART参数，所述SMART参数包括：重分配扇区参数、当前待映射扇区参数、错误无法恢复参数和指令超时参数；根据所述SMART参数中各项参数的监测值判断所述硬盘是否出现状态异常；如果是，根据所述SMART参数中各项参数的监测值调整所述硬盘的健康指标值；根据当前所述硬盘的健康指标值确定所述硬盘当前的健康状态。

【技术特征摘要】
1.一种基于SMART的预测硬盘亚健康指标的方法，其特征在于，包括：监测硬盘的自我监测分析与报告技术SMART参数，所述SMART参数包括：重分配扇区参数、当前待映射扇区参数、错误无法恢复参数和指令超时参数；根据所述SMART参数中各项参数的监测值判断所述硬盘是否出现状态异常；如果是，根据所述SMART参数中各项参数的监测值调整所述硬盘的健康指标值；根据当前所述硬盘的健康指标值确定所述硬盘当前的健康状态。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述SMART参数中各项参数的监测值判断所述硬盘是否出现状态异常包括：当所述SMART参数的监测值存在以下情况中的至少一项时，确定所述硬盘出现状态异常：所述重分配扇区计数参数的监测值非0；所述当前待映射扇区计数参数的监测值大于第一设定值；所述无法恢复的错误参数的监测值非0；所述指令超时参数的监测值大于第二设定值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述SMART参数还包括：颗粒平均擦写参数；根据所述SMART参数中各项参数的监测值判断所述硬盘是否出现状态异常还包括：当所述颗粒平均擦写参数的监测值小于第三设定值时，确定所述硬盘出现状态异常。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述SMART参数
\t中各项参数的监测值调整所述硬盘的健康指标值包括：根据所述SMART参数中各项参数的监测值查找预先设定的健康指标值调整幅度列表，所述健康指标值调整幅度列表包括所述SMART参数中各项参数的监测值所处区间对应的健康指标调整幅度值；按照所述监测值查找到的健康指标调整幅度值计算调整所述硬盘的健康指标值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据当前所述硬盘的健康指标值确定所述硬盘当前的健康状态，还包括：根据所述健康指标值计算得到硬盘的健康百分比；读取所述硬盘的累计通电时间；基于所述健康百分比和所述硬盘的累计通电时间初步计算得到硬盘的剩余寿命；以及收集硬盘运维数据，形成硬盘运维知识库，在所述硬盘运维知识库中获取所述累计通电时间和硬盘的亚健康指标数据，构建不同类型、品牌、型号硬盘的平衡预测系数模型，根据所述平衡预测系数模型计算得到平衡预测系数，并通过所述平衡预测系数...

【专利技术属性】
技术研发人员：范光彬，刘皙，
申请(专利权)人：思创数码科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36