下载一种半导体器件及其制造方法的技术资料

文档序号:13585064

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本发明实施例公开了一种半导体器件及其制造方法,该半导体器件包括:半导体基底;位于半导体基底上的有源区,有源区具有栅极、源极和漏极;位于半导体基底上的闭合金属环状结构,用于包围有源区并通过接收电压以形成耗尽隔离层。本发明中耗尽隔离层通过电场耗...
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