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本发明提供了一种自动化测试系统，半导体受测装置(DUT)可由所述自动化测试系统测试，所述自动化测试系统处理对每个测试器周期的边缘数量予以指定的测试程序，所述边缘数量可大于测试器能够生成的边缘的数量。所述测试系统可包括电路，所述电路基于数据来...
该专利属于泰拉丁公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰拉丁公司授权不得商用。

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