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本发明提供一种场效应晶体管的制造方法，先形成侧墙，然后进行源/漏(S/D)注入工艺形成重掺杂的漏极区和源极区，接着再进行轻掺杂漏注入工艺形成轻掺杂漏极注入区和源极注入区，相对于传统的做法改变了工艺次序，因而形成重掺杂的漏极区和源极区、形成轻...
该专利属于无锡华润上华半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡华润上华半导体有限公司授权不得商用。

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