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本实用新型公开了一种基于S型光纤的强度解调型长周期光栅微位移测量装置，它由宽带光源、入射单模光纤、S型光纤、长周期光栅、出射单模光纤、光功率计构成，其中长周期光栅刻于S型光纤上。通过将该传感结构固定在需测量的微位移平台上，当待测微位移发生变...
该专利属于中国计量学院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量学院授权不得商用。

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