一种基于S型光纤的强度解调型长周期光栅微位移测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种基于S型光纤的强度解调型长周期光栅微位移测量装置，它由宽带光源、入射单模光纤、S型光纤、长周期光栅、出射单模光纤、光功率计构成，其中长周期光栅刻于S型光纤上。通过将该传感结构固定在需测量的微位移平台上，当待测微位移发生变化时，S型光纤由于轴向应力导致弯曲度发生变化，即S型光纤两侧的垂直距离随着待测微位移的增大而减小，S型光纤的纤芯和包层能量分布发生变化，导致测量装置输出谐振峰的光强发生改变，通过监测该变化可以获得微位移的变化量。该装置可以避免使用复杂和昂贵的检测和解调系统，能够在环境参数测量中广泛地使用。

【技术实现步骤摘要】
201521096356

【技术保护点】
一种基于S型光纤的强度解调型长周期光栅微位移测量装置，包括宽带光源(1)、入射单模光纤(2)、S型光纤(3)、长周期光栅(4)、出射单模光纤(5)光功率计(6)；宽带光源(1)的输出端与入射单模光纤(2)的一端相连，入射单模光纤(2)的另一端与长周期光栅(4)的一端相连，长周期光栅(4)的另一端与出射单模光纤(5)的一端相连，出射单模光纤(5)的另一端与光功率计(6)相连，S型光纤(3)位于长周期光栅(4)中间。

【技术特征摘要】
1.一种基于S型光纤的强度解调型长周期光栅微位移测量装置，包括宽带光源(1)、入射单模光纤(2)、S型光纤(3)、长周期光栅(4)、出射单模光纤(5)光功率计(6)；宽带光源(1)的输出端与入射单模光纤(2)的一端相连，入射单模光纤(2)的另一端与长周期光栅(4)的一端相连，长周期光栅(4)的另一端与出射单模光纤(5)的一端相连，出射单模光纤(5)的另一端与光功率计(6)相连，S型光纤(3)位于长周期光栅(4)中间。
2.根据权利要求1所述的一种基于S型光纤的强度解调型...

【专利技术属性】
技术研发人员：周晓影，康娟，王小蕾，桑涛，李晨霞，赵春柳，
申请(专利权)人：中国计量学院，
类型：新型
国别省市：浙江;33