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本发明公开了一种基于分形理论的绝缘材料闪络后表面微观形貌分析方法，包括以下步骤：步骤1：对绝缘材料进行闪络放电实验，获取所述绝缘材料的AFM表面形貌图；步骤2：将所述绝缘材料的AFM表面形貌图转换为灰度图像；所述灰度图像的尺寸为m×m；步骤...
该专利属于华北电力大学（保定）所有，仅供学习研究参考，未经过华北电力大学（保定）授权不得商用。

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