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用于先进半导体技术的电迁移验证制造技术
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下载用于先进半导体技术的电迁移验证的技术资料
文档序号:13449210
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用于对集成电路中的电线的电迁移进行验证的计算机实现方法包括:使用计算机计算电线的IR压降;使用计算机确定所计算IR压降是否小于预定值。在所计算IR压降小于预定值的情况中,该方法包括:保持电线的布局尺寸不变;并且在所计算IR压降大于或等于预定...
该专利属于新思科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过新思科技有限公司授权不得商用。
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