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本实用新型公开了一种基板开短路测试载具，包括：测试平台和至少一组测试探针，测试探针设置在测试平台上，测试探针能够与设置在待测基板上的焊盘进行电连接，通过测试探针能够对所述基板内部电路进行开短路测试。本实用新型是用于通过在半成品状态引入开短路...
该专利属于南通富士通微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南通富士通微电子股份有限公司授权不得商用。

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