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本发明公开了一种微位移测试系统用微处理器外围电路，用于连接微处理器，包括晶振电路和复位电路；所述晶振电路包括：与所述微处理器XTAL1接口和XTAL2接口连接的无源晶振，连接在所述微处理器的XTAL1接口和接地端之间的电容C19，连接在所述...
该专利属于上海工程技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海工程技术大学授权不得商用。

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