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本发明公开一种高低温下分布集中的带隙基准电路，包括带隙基准电路、温度检测器和选通逻辑模块；所述带隙基准电路用于输出带隙基准电压vBGR；所述温度检测器用于检测带隙基准电路所处环境的温度，并在所测温度值大于或等于阈值时输出第一信号给选通逻辑模...
该专利属于西安紫光国芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安紫光国芯半导体有限公司授权不得商用。

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