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一种基于窄带半导体锑化铟的太赫兹圆偏振光产生方法技术
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下载一种基于窄带半导体锑化铟的太赫兹圆偏振光产生方法的技术资料
文档序号:13157615
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本发明涉及一种基于窄带半导体锑化铟的太赫兹圆偏振光产生方法,将锑化铟样片低温恒温器中,待温度稳定后,将入射线偏振太赫兹波经一线偏振片提高偏振度,聚焦后照射至锑化铟样片的表面,并将一可调稳定的磁场垂直加载于锑化铟样片。根据入射太赫兹的频率,通...
该专利属于福州大学所有,仅供学习研究参考,未经过福州大学授权不得商用。
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