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本发明提供了一种芯片修复方法和装置，以解决GBL修复无法满足芯片良品率提升，以及性能提升要求的问题。所述方法包括：对芯片中的主阵列存储单元进行测试，得到发生故障的存储单元的地址信息；根据发生故障的存储单元的地址信息与芯片中的冗余存储单元，对...
该专利属于北京兆易创新科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京兆易创新科技股份有限公司授权不得商用。

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