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高电压金属氧化物半导体晶体管设备制造技术
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文档序号:12987002
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本发明实施例提供了一种高电压金属氧化物半导体晶体管设备,包括:半导体基底;栅极,覆盖在所述半导体基底的上面;所述栅极的相对的第一侧壁和第二侧壁上的侧壁间隔物;漏极结构,位于所述半导体基底中;第一离子井,位于所述半导体基底中,并且与所述栅极部...
该专利属于联发科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联发科技股份有限公司授权不得商用。
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