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非易失性半导体存储装置及其改写方法制造方法及图纸
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下载非易失性半导体存储装置及其改写方法的技术资料
文档序号:12961646
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在能够实现以比特为单位的双向改写的非易失性半导体存储装置中,使存储单元的耐久特性以及数据保持特性提高,同时高速地实施改写动作。设置与写入状态的变化的数量相应的逻辑电路(203、204),并行地实施改写开始时的存储器读出数据(RO)和被给予的...
该专利属于松下知识产权经营株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过松下知识产权经营株式会社授权不得商用。
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