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提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含：照射部：其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40)；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射...该专利属于大塚电子株式会社;国立大学法人东京农工大学所有，仅供学习研究参考，未经过大塚电子株式会社;国立大学法人东京农工大学授权不得商用。