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一种新型微型元件三维测量系统及其测量方法，所述系统包括将用于投影已知图形的DLP微型投影仪、用于采集受待测物体影响发生偏折或变形图像的照相装置、用于数据处理的计算机和用于放置待测物体的载物平台；所述照相装置包括CCD相机、Scheimpfl...
该专利属于广东工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过广东工业大学授权不得商用。

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