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一种双浅沟槽隔离形成方法技术
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文档序号:12511699
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一种双浅沟槽隔离形成方法,其首先在晶圆上进行一次曝光显影,将第一浅沟槽(即预定深度更浅的沟槽)区域用第一光刻胶覆盖,然后,用低温PEALD的方式生长一层很薄的氧化硅,接下来再进行第二次光刻,定义第一浅沟槽和第二浅沟槽区域;第一浅沟槽区域由于...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。
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