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公开了一种晶圆测试结构，所述晶圆上包括阵列排布的管芯，所述管芯之间通过划片槽隔开，所述晶圆测试结构还包括设置在划片槽中的导电通路，所述导电通路将至少两个管芯电连接成为一个测试组。所述晶圆测试结构提高了晶圆测试的效率。...
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