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本实用新型涉及一种用于多页存储阵列的损坏单元片内统计系统，包括锁存模块、锁存使能模块、回写地址模块、页缓存器回写模块、错误计数模块、验证结果锁存模块以及错误数目统计区，锁存模块位于读数据通路上，用于接收验证模块发送的成功标志位，并在接收到锁...
该专利属于西安华芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安华芯半导体有限公司授权不得商用。

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