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本发明涉及一种集成电路测试系统，包括自动测试单元，测试接口单元，嵌入在待测芯片上的片上测试单元，片上测试单元包括通路选择模块、采样保持模块以及校准模块，待测芯片通过所述测试接口单元与自动测试单元相连接，自动测试单元产生测试向量以及通路控制信...
该专利属于工业和信息化部电子第五研究所所有，仅供学习研究参考，未经过工业和信息化部电子第五研究所授权不得商用。

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