温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种回转体零件廓形的特征点提取及自动分段方法，本发明利用传感器对回转体进行扫描，并等间隔均匀采样；利用采样数据，在2n+1曲率计算方法中对得到的回转体各个采样点的曲率进行计算，得到回转体各个采样点变形后的曲率，将近似变形后的曲率...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。