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一种基于FRET荧光检测装置属于光电检测领域与信号处理领域，目的在于解决现有技术存在的设备昂贵而笨重和检测流程复杂的问题。本发明的一种基于FRET荧光检测装置包括：探测部，探测部包括滤光片、光电二极管、前置放大电路、AD采集电路，光电二极管...
该专利属于长春理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长春理工大学授权不得商用。

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