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本发明公开了一种用于片上系统SOC芯片的测试方法和系统，包括：为整个SOC芯片输入一路测试复位信号和一路捕获使能信号。为每个需要进行测试的一个或多个测试部分分别输入一路测试时钟信号和一路或多路测试数据输入信号，并在每个需要进行测试的一个或多...该专利属于大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司授权不得商用。