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本发明属于半导体器件测试技术领域，一种用于LED结温K系数的测试装置，包括温度控制器、设置在所述温度控制器上的恒温槽、导电探针和弹簧片；所述恒温槽内设置有用于固定LED的空间，所述的恒温槽侧壁上设置有通孔，所述导电探针通过所述通孔一端进入恒...
该专利属于江苏理工学院所有，仅供学习研究参考，未经过江苏理工学院授权不得商用。

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