温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及用于实施X-射线荧光分析的方法，其中初级辐射（16）从X-射线辐射源（14）对准样本主体（12），其中从样本主体（12）发射的次级辐射（18）由检测器（20）检测并且由评估单元（21）评估，其中具有形成滤波器层级的至少一个滤波器层...该专利属于赫尔穆特费希尔有限责任公司电子及测量技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过赫尔穆特费希尔有限责任公司电子及测量技术研究所授权不得商用。