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半导体元件及其制造方法技术
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文档序号:12091237
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本发明公开了一种半导体元件及其制造方法,所述半导体元件包含:基板、第一及第二槽状结构。第一槽状结构位于该基板,包含第一导电层、第一掺杂层及第一绝缘层,第一绝缘层位于该第一导电层与该第一掺杂层之间。第二槽状结构位于该基板,与该第一槽状结构之间...
该专利属于瑞昱半导体股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过瑞昱半导体股份有限公司授权不得商用。
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