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本发明提供一种能够在不损害纠错部的功能的情况下以简单的电路实现小型化的非易失性半导体存储装置及其测试方法。纠错电路构成为只进行与数据比特相同数量的比特数的检错和纠正，通过不设置对检查比特进行检错和纠正的电路而使电路小型化。并且，在测试状态下...
该专利属于精工电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过精工电子有限公司授权不得商用。

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