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本发明涉及一种坐标测量机和坐标测量机的校正矩阵计算方法。第一校正分量计算处理单元基于第一检测值和第二检测值来计算校正矩阵的对角分量。通过如下测量来获得第一检测值和第二检测值：使校准基准体和探测器在校准基准体的表面的法线方向上彼此相对地移动，...
该专利属于株式会社三丰所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社三丰授权不得商用。

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