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本发明提出了多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试方法和装置，可以同时表征半导体激光器在快慢轴两个方向上的光斑分析，能够同时获取快慢轴两个方向上的发光点强度和相对位置信息。本发明结构简单，可靠性高，能够直接获取半导体激光器空间光束轮廓图样...
该专利属于西安炬光科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安炬光科技有限公司授权不得商用。

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