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本发明是CAPP工艺尺寸自动生成与更新系统和方法，该系统包括CPU和与之电信号相连的工艺尺寸数据库(2)、工艺尺寸拾取模块(3)、工艺尺寸插入模块(5)、工艺尺寸更新模块(6)，与工艺尺寸拾取模块信号输出端相连的工艺尺寸存储模块(4)，以及...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

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