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一种集成电路标准样片特性参量测量装置，包括：管脚划分单元，用于将标准样片的管脚划分为控制管脚和测量管脚；信号划分单元，用于将管脚信号划分为测量信号与控制信号；测量回路建立单元，用于控制外接仪表产生测量信号，通过特性参量测量板将测量信号分配到...
该专利属于中国船舶重工集团公司第七0九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国船舶重工集团公司第七0九研究所授权不得商用。

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