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本实用新型涉及一种用于芯片ATE测试的高精度电压测量电路，属于电路结构技术领域。采用了结构的用于芯片ATE测试的高精度电压测量电路，其包括基准电压产生模块和误差放大处理模块，待测芯片的输出电压与所述的基准电压产生模块的输出端均连接所述的误差...
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