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本实用新型公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块...
该专利属于清华大学;同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学;同方威视技术股份有限公司授权不得商用。

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