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本发明提供一种校正激光脉冲的方法和用于校正激光脉冲的装置。校正激光脉冲的方法包含以下过程：测量个别激光脉冲，其中测量从多个激光光源射出且由每一个别衰减器进行强度调节的所述个别激光脉冲的峰值；控制每一衰减器的入射角，其中在所测量的个别激光脉冲...
该专利属于AP系统股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过AP系统股份有限公司授权不得商用。

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