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多点式金属化薄膜电阻测试支架制造技术
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文档序号:11649621
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本实用新型公开了一种多点式金属化薄膜电阻测试支架,包括一用于平托金属化薄膜样品的支撑底座;两个用于接触金属化薄膜样品的检测头,两个所述检测头分别连接电阻检测设备的正负极检测线;两个固定设置于所述支撑底座上用于夹持金属化薄膜样品的夹持片,两个...
该专利属于黄山申格电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过黄山申格电子科技有限公司授权不得商用。
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